采用國際SEMI和ASTM標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行硅片的生產(chǎn)、檢驗(yàn)和出荷判定,并可以滿足顧客指定的特殊要求。如采用SEMI M1拋光單晶硅晶片規(guī)范、SEMI M8拋光單晶硅測試晶片規(guī)范、SEMI M43晶圓納米形貌報告指南、SEMI MF26標(biāo)準(zhǔn)測定產(chǎn)品晶向、SEMI MF43標(biāo)準(zhǔn)測定產(chǎn)品電阻、SEMI MF1390標(biāo)準(zhǔn)測定產(chǎn)品翹曲、SEMI T3晶圓盒標(biāo)簽規(guī)范等。